- Tesis Doctoral: Electrical Characterization of Reliability in Advanced Silicon-On-Insulator Structures for sub-22nm Technologies

23/03/2017

Doctorando: D. Carlos Márquez González.
Fecha y hora: jueves, 23 de marzo de 2017, a las 11:00 horas.
Lugar: Salón de Grados de la Facultad de Ciencias.

Doctorando: D. Carlos Márquez González.
Directores: Dr. D. Noel Rodríguez Santiago y Dr. D. Francisco Jesús Gámiz Pérez.
Fecha y hora: jueves, 23 de marzo de 2017, a las 11:00 horas.
Lugar: Salón de Grados de la Facultad de Ciencias.
Unidad Temática de Investigación: EE-ICT.
Grupo de Investigación: TIC-216.

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